还有哪些设备可以用来测量？放大倍数，se二次电子探测器，ul应为探测器位置。扩展资料:不同厂家对设备规模设定的数值不同，美国设备一般偏好微米级规模；但是日本和捷克都有微米和纳米，纳米也是比较大的数值；而德国蔡司的设备更倾向于小数值的纳米级数值，但完全不影响样品的放大倍数。
扫描电镜和透射电镜一般科研院所和大学都有，但这和操作水平有很大关系。扫描电镜也差不多，关键看设备怎么样。透射电镜不仅与设备有很大关系，还与操作者的水平有很大关系。可以去各个学校问问，建议最后由管理电镜的老师来操作实验，这样可以得到更好的数据。当然，你需要知道你对你的样本有一个大致的概念。北京中间镜仪器分析测试中心可以。我在那里做过一次，效果挺好的。最主要的是不需要排队，23天就能出结果。
可以直接切开，取上层做扫描电镜测试。岩石表面的扫描电镜(SEM)测试是将样品放在SEM测试台上，用电子束扫描样品表面，然后通过检测反射电子获得图像。【产品详情点击】以下是SEM测试的一般步骤:1。准备样品表面:将岩石切成薄片或取出一部分，然后抛光以获得光滑的表面。2.安装样品:小心地将样品放在SEM测试台上，并用夹具固定。
3.调整测试参数:将扫描电镜设置到合适的工作条件，如电子束电压、发射电流和扫描速度。这些参数的选择取决于样品和测试方法的特性。4.开始测试:启动扫描电镜，开始扫描电子束。观察样品表面的反射电子，用计算机控制的SEM仪器捕捉并处理图像。5.分析结果:分析图像以获得样品表面的详细信息。您可以使用高分辨率像素和其他测试函数来获得更准确的数据。
用ICP看一下pwang526(站内接触TA)，貌似XPS精度不够的幼煮(站内接触TA)也很贵:rol:dafeng001(站内接触TA)看lz在测什么元素，EDS测轻元素不准确。如果有时候有新的阶段，XRD就做，能挂下来就做。当然，也可以看你想测什么元素。总之lz给的信息太少了。宋金龙(站内联系TA)已经氟化，想测OCFSisongjinlong(站内联系TA)。原lypostedbydafeng 001 at 2011 03 04 15:42:14:我认为OFSi的内容是微量的。现在想用电子探针测一下。你觉得可以吗？电子探针和EDS的区别不是太大。这是半定量的。我们非常需要这些数据。让我们做一个元素分析。夏雪_326(联系站内TA)尝试FTIR和红外测试，这也表征了成分。
4、sem图的标尺的含义su8000仪器型号，加速电压15kv，工作距离8.3mm，30k，放大倍数，se二次电子探测器，ul应为探测器位置。扩展资料:不同厂家对设备的刻度设置了不同的数值，美国设备一般偏向于千分尺刻度；但是日本和捷克都有微米和纳米，纳米也是比较大的数值；而德国蔡司的设备更倾向于小数值的纳米级数值，但完全不影响样品的放大倍数。